案例详情

BMT WLI白光干涉仪操作现场

日期:2024-04-29 21:01
浏览次数:0
摘要:BMT WLI白光干涉仪操作现场
BMT WLI白光干涉仪操作现场

德国BMT公司生产的表面形貌测量系统主要是对材料裂纹,断口,金相分析,各类粗,精加工及超精密加工的表面的微观形貌进行超高精度的测量和分析,可对较大或微观区域内的直线度,平面度,台阶高度,粗糙度进行测量和计算.按客户需求可选择自聚焦传感器,共焦传感器,白光干涉仪,接触式传感器,三角测量传感器,色敏传感器等不同传感器.结构采用桥式测量结构,X,Y移动工作台,通过BMT专用三维测量软件对数据进行采集和分析.采用无缝拼接测量范围X,Y轴大300mm,Z轴大50mm.该类仪器可具有原子尺度的超高分辨率(垂直分辨率1nm),能获得被测表面原子结构及功能特性的大量信息.


此图摄于深圳机械展会现场,图中为我司技术工程师远工仪器操作现场.

所有解释权归深圳市瑞华精密仪器有限公司所有.
下一篇: 行业案例测试
上一篇: OPTIMA PLUS展示现场