产品名称：Optosurf粗糙度传感器

        Optosurf散射光传感器，散射法的测量原理是利用光反射特性和表面粗糙度之问的相互关系。测量工件表面的反射或漫射率作为另一种参量的函数，这些参量有入射角、反射角、检测器的接收角、每个定角的反射率等。采用角分辨散射技术(Angle ResolvedScattering，ARS)。其优点就是测量速度快、光路简单、可用于大口径光学表面的粗糙度等参数的测量。

主要特点：

◆ 准确，快速，对振动不敏感
◆ 可同时测量表面形状及粗糙度
◆ 外界机械振动对表面测量影响小
◆ 零件100%的测量，即使是大量的测量
◆ 完整的测量表面
◆ 粗糙度测量原理，角度散射光法
◆ 形状测量原理，偏转反射光法
◆ 测量角度范围32°
◆ 测量粗糙度范围(Aq)1.6 <Aq<100
◆ 软件配带数据库数据
◆ 可兼容条形码扫描器，自动识别零件；
◆ 可实现完全自动测量过程
◆ 支持QS-STAT数据输出
◆ 3D图形显示(Aq, I, M, form, waviness)
◆ 可同时显示原始数据及过滤后的数据
◆ 配带ISO标准高低带通滤波器设置

Optosurf散射光传感器测量和分析软件特点：

测量技术需要现代的软件配合，以便能够处理大量的测量数据。Optosurf散射光传感器软件能够记录测量数据，以及后续的测量数据分析和表示。通过定义公差值，不合格产品可以被自动识别出来。并且可以通过使用条码扫描器识别零件，使得运行零件测量程序变得更加智能。基于数据库的软件，可通过矩阵扫描仪识别零件，全自动测量过程，qs STAT数据导出，三维图形（Aq，I，M，形状，波纹度）原始数据的表示过滤数据的表示；高、低、带ISO滤波器设置 。

Optosurf粗糙度传感器